Do Real ao Digital: como o escaneamento 3D e a metrologia óptica estão transformando a ferramentaria de precisão

No dia 29 de maio de 2025, às 17h, o Campus Bragança Paulista do Instituto Federal de São Paulo (IFSP)  promoverá a palestra técnica "Do Real ao Digital",  que abordará as mais recentes aplicações do escaneamento 3D e da metrologia óptica como ferramentas estratégicas para a engenharia reversa, digitalização de peças e controle de qualidade.

O evento, organizado pelo Laboratório de Metrologia Óptica do IFSP, é voltado a empresários, gestores e profissionais da indústria metal-mecânica, especialmente do setor de ferramentaria de precisão.

A palestra mostrará como essas tecnologias de ponta estão sendo utilizadas para aumentar a produtividade, reduzir custos e melhorar a precisão de processos industriais. Serão discutidos temas como a geração de nuvens de pontos via escaneamento tridimensional, a aplicação da metrologia sem contato para inspeções rigorosas e a criação de modelos CAD a partir de peças físicas — técnicas cada vez mais presentes em ferramentarias modernas.

Entre os tópicos apresentados, os participantes terão contato com casos práticos e benefícios tangíveis da engenharia reversa, além de aprender como essas soluções estão contribuindo para a inovação e a competitividade no setor industrial. 

A palestra acontecerá às 17h, na Sala de Eventos A501 do IFSP Bragança Paulista, e as inscrições podem ser feitas por meio do link: https://suap.ifsp.edu.br/eventos/inscricao_publica/13163/.

Para saber mais sobre a prestação de serviços com o scanner 3D, acesse: https://bra.ifsp.edu.br/metrologiaoptica.

Serviço 

PALESTRA TÉCNICA "DO REAL AO DIGITAL"

 Data: 29/05/25 (quinta-feira)
 Horário: 17h
 Local: IFSP - Campus Bragança Paulista - Av. Major Fernando Valle, 2013 - São Miguel - Auditório A501
 Inscrições: https://suap.ifsp.edu.br/eventos/inscricao_publica/13163/